본 과정은 반도체 제조 데이터를 기반으로 Bin 데이터 현황 분석, Wafer Defect Map 패턴 분석,
수율과 공정 파라미터 간 연관성 분석까지 수행하는 실전 분석 과정입니다.
단순 시각화를 넘어, 패턴 유사도 분석과 군집화 기법을 활용하여 불량 유형을 분류하고 공정 변수와 수율 간 관계를 데이터 기반으로 해석하는 방법을 학습합니다.
실무에서 활용 가능한 대시보드를 직접 구현하며, 반도체 제조 데이터를 분석하는 구조적 접근 방식을 익히는 데 초점을 둡니다.
Spotfire®(스팟파이어)는 이미 국내 다양한 기업에서 사용되고 있는 In-Memory, Self-Service 기반의 빅데이터 시각화 통계 분석 솔루션입니다.
이 강의의 목표 ✏
본 강의는 반도체 제조 데이터를 기반으로 제조 현황 진단부터 Wafer Defect Map 패턴 분석, 수율과 공정 파라미터 간 연관성 분석까지 수행하는 실전 과정입니다.
단순 시각화를 넘어, 패턴 유사도 분석과 군집화를 활용하여 불량 유형을 분류하고 공정 변수와 수율 간 관계를 데이터 기반으로 해석하는 분석 역량을 목표로 합니다.
강의 특징 💡
✔ 반도체 제조 데이터 구조를 기반으로 분석을 진행합니다. ✔ Bin·Value 데이터 결합을 통한 현황 진단을 수행합니다. ✔ Wafer Defect Map 기반 유사도 분석 및 K-means 군집화를 다룹니다. ✔ 수율과 공정 변수 간 연관성 분석 대시보드를 구현합니다. ✔ 기능 설명이 아닌 실전 분석 흐름 중심으로 구성되었습니다.
사용 프로그램 🧰
✔ Spotfire®
예상 질문 Q&A 💬
Q. Spotfire를 처음 사용하는데 수강이 가능한가요?
본 강의는 Spotfire 기본 사용 경험이 있는 사용자를 대상으로 제작되었습니다. 데이터 불러오기, 기본 시각화, 필터 및 계산된 컬럼 사용 경험이 필요합니다. 처음 사용하시는 분은 Spotfire - 사용자교육 기초편수강 후 학습을 권장드립니다.
Q. Spotfire 실습을 해보고 싶은데, Spotfire는 어디서 다운받아야 하나요?
강의를 수강하신 분들께 수강 기간 동안 사용할 수 있는 3개월 임시 라이선스 및 설치 파일을 제공해드리고 있습니다. 수강신청 후 “새소식” 탭에서 임시 라이선스를 신청해주세요.
Q. 강의에 사용되는 실습용 데이터 파일은 어디서 다운받아야 하나요?
강의 교재로 활용되는 샘플 데이터 파일은 수강신청 후, 섹션1 첫 수강 화면에서 다운받으실 수 있습니다.
Q. 초보자도 수강할 수 있나요?
본 강의는 Spotfire 중고급 사용자를 대상으로 제작되어 있으며, Spotfire를 처음 사용하시는 분들께는 권장하지 않습니다. Spotfire 인터페이스에 익숙하지 않으신 분들은 기초편 및 고급편 선행 과정 강의를 먼저 수강하시기를 권장드립니다.
기타 안내사항 ✔
수강 전 확인해주세요!
본 강의는 강사의 [질문/답변] 을 제공하지 않습니다. 수강 중 문의사항이 있으신 분은 [새소식] 탭의 공지사항을 확인해주세요.
