Spotfire Ứng dụng - Bán dẫn

Khóa học này là một chương trình phân tích thực tiễn, thực hiện từ phân tích hiện trạng dữ liệu Bin, phân tích mô hình Wafer Defect Map, cho đến phân tích mối tương quan giữa hiệu suất (yield) và các thông số quy trình dựa trên dữ liệu sản xuất bán dẫn. Vượt xa việc trực quan hóa đơn thuần, bạn sẽ được học cách phân loại các loại lỗi bằng kỹ thuật phân tích độ tương đồng mô hình và phân cụm (clustering), đồng thời học cách giải thích mối quan hệ giữa các biến quy trình và hiệu suất dựa trên dữ liệu. Khóa học tập trung vào việc giúp người học nắm vững phương pháp tiếp cận cấu trúc để phân tích dữ liệu sản xuất bán dẫn, thông qua việc trực tiếp triển khai các bảng điều khiển (dashboard) có thể ứng dụng trong thực tế công việc.